哈纳HI96705微电脑低量程二氧化硅(SiO2)浓度测定仪

哈纳HI96705微电脑低量程二氧化硅(SiO2)浓度测定仪

手  机:17051050460
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HI96705 主机,HI93705-01 专用二氧化硅(SiO2)试剂,HI731333 定制专用玻璃比色皿(2个),HI731318 专用玻璃比色皿清洁布(2块),中英文使用说明书,HI72100
分 类:离子浓度测定

哈纳HI96705微电脑低量程二氧化硅(SiO2)浓度测定仪说明

产品概述:
二氧化硅在溶解矿物质的天然水体中存在。但在工业应用中却不希望有二氧化硅的存在,因为二氧化硅会引起结垢现象。
特别是高压管道中更易受二氧化硅的影响。
加热系统和反渗透工厂也有必要监测二氧化硅。
性能特点
▪ 优良的光学系统设计,人性化确认操作,保证仪器的良好校准;
▪ 双行易读LCD显示屏,人性化显示界面,操作简单、快捷;
▪ 倒计时功能,试剂与样品反应时间一致性,确保测量精确度;
▪ 操作简单,定期内置标准曲线标定功能,确保仪器性能**佳;
▪ 出厂前内置标准曲线标定,具有CAL CHECK 性能核查功能,
▪ GLP功能,随时更新、查阅标定数据、日期、标准等信息;
▪ 高精度测量结果,光源防尘测量系统,自动关机节电模式
▪ 优良防水性能,适用于实验室和现场快速样品分析测量。
CAL CHECKTM 性能核查功能
仪器在使用一段时间后,仪器光学系统将会衰减,造成内部设置的标准曲线会出现漂移,影响测量数据可靠性和准确性。
独有CAL CHECKTM性能核查功能,二氧化硅NIST测量曲线标定组可定期(频繁使用,1-3个月标定一次,常规情况下,半年标定一次)仪器内部曲线进行标定和校正,修订内部标准曲线漂移,确保测量数据正确可靠。
二氧化硅NIST测量曲线标定组,保存和使用应在18 to 25°C(64.5 to 77°F)温度范围内,非Hanna 品牌专用二氧化硅NIST测量曲线标定组会造成内置标准曲线严重漂移,甚**会损坏仪器。


技术参数:
测量范围:0.00 to 2.00 mg/ L(ppm)SiO2
解 析 度:0.01 mg/ L(ppm)
测量精度:读数±3% ±0.03 mg/L @ 25°C
测量方法:参照ASTM D859标准杂多蓝方法
光学系统:定制专用接收器暨光源系统
电源模式:1 x 9V 电池,在测量模式下,10分钟不用后自动关机
使用环境:0 to 50°C(32 to 122°F),RH max 95%,无冷凝
尺寸重量:主机尺寸:192 x 104 x 69 mm,主机重量:360g


标准配置:
HI96705

主机,HI93705-01 专用二氧化硅试剂,HI731333 定制专用玻璃比色皿(2个),HI731318 专用玻璃比色皿清洁布(2块),中英文使用说明书,HI721006 定制专用仪器携带箱
HI96705C
主机,HI93705-01 专用二氧化硅试剂,HI96705-11 专用二氧化硅NIST测量曲线标定组,HI731333 定制专用玻璃比色皿(2个),HI731318 专用玻璃比色皿清洁布(2块),中英文使用说明书,HI721018 定制专用仪器携带箱


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